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      上海儀電物光 顆粒圖像分析儀

      型 號WKL-702

      產品時間2024-10-12

      所屬分類上海儀電

      報價

      產品描述:上海儀電物光 顆粒圖像分析儀
      將傳統的顯微測量方法與現代的圖像技術相結合,是一種采用圖像法進行顆粒形貌分析和顆粒測量的顆粒分析儀器,由光學顯微鏡、數字CCD攝像機和顆粒圖像處理分析軟件組成。
      產品概述

      上海儀電物光  顆粒圖像分析儀

      將傳統的顯微測量方法與現代的圖像技術相結合,是一種采用圖像法進行顆粒形貌分析和顆粒測量的顆粒分析儀器,由光學顯微鏡、數字CCD攝像機和顆粒圖像處理分析軟件組成。

      該系統通過專用的數字攝像機將圖像傳輸給電腦,通過專用的顆粒圖像處理分析軟件對圖像進行分析處理,具有直觀、形像、準確和測量范圍寬等特點。

      1、圖像多種處理方法:影像增強、圖像疊加、局部提取、定倍放大、對比度、亮度調節、顆粒定位、自動分割等幾十種功能。

      2、具有圓度、曲線、周長、面積、直徑等幾十種幾何參數的基本測量。

      3、可直接按顆粒粒徑的粒徑面積、形狀等多類參數,以線性或非線性統計方式繪出分布圖。

      上海儀電物光  顆粒圖像分析儀

      技術參數

      儀器型號

      WKL-702

      測量范圍

      0.13000(微米)

      總放大倍數

      8000

      最大分辨率

      0.1微米/像素

      重復性

      誤差≤±1

      自動分割速度

      1

      數字攝像機(CCD)

      500萬像素

      數據儲存

      電腦需另配(i5+8G內存+純固態硬盤或雙硬盤以上配置)

      通信接口

      USB

      操作系統

      Windows 98/XP/7/8/10/11系統均可

      電源

      AC220V ±10%,50 Hz 200 W

      儀器尺寸

      270mm×410mm×440mm

      儀器凈重

      15kg


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